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美國TA差式掃描量熱儀是一種在程序溫度下測量材料和基準(zhǔn)之間功率差的溫度依賴性的技術(shù)。當(dāng)樣品和基準(zhǔn)之間的溫差在加熱過程中由于熱效應(yīng)而出現(xiàn)時，通過差分熱放大電路和差分熱補(bǔ)償放大器改變流入補(bǔ)償電熱的電流，補(bǔ)償放大器立即增加樣品一側(cè)的電流。量熱儀是一種用于測量突發(fā)性的化學(xué)或物理反應(yīng)過程發(fā)熱量的儀器。量熱儀的結(jié)構(gòu)一般有外筒、內(nèi)筒、溫度計和攪拌器四部分。量熱儀的外筒是用于保溫，內(nèi)筒是用于充當(dāng)反應(yīng)容器。量熱儀的溫度計是用來測量反應(yīng)溫度的變化，而攪拌器則用來使反應(yīng)物混合均勻，以提高反應(yīng)的*性...

場發(fā)射掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機(jī)理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實(shí)現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息；對x射線的采集，可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。另一個重要特點(diǎn)是景深大，透射電鏡是光學(xué)顯微鏡的10倍由于圖像景深較大，獲得的掃描電子圖像具有三維感強(qiáng)、形狀三維等特點(diǎn)，比其他顯微鏡能提供更多的信息，對用戶有很大的價值，其所表明斷裂形態(tài)從深層和高景深的角度反映了材料斷裂的性質(zhì)，在教學(xué)科研和生產(chǎn)中具有重要作用，是材料斷裂原因分析、事故...

掃描電鏡全稱掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡可以分析纖維、紙張、鋼鐵質(zhì)量，觀察礦石結(jié)構(gòu)、檢測催化劑微觀結(jié)構(gòu)、觀看癌細(xì)胞與正常細(xì)胞差異等。掃描電鏡是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過多級電磁透鏡匯集成細(xì)小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應(yīng)束流為10-11~10-12A)。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會產(chǎn)生二次電子...

鎢燈絲掃描電鏡是對樣品表面形態(tài)進(jìn)行測試的一種大型儀器。當(dāng)具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時，電子與元素的原子核及外層電子發(fā)生單次或多次彈性與非彈性碰撞，一些電子被反射出樣品表面，而其余的電子則滲入樣品中，逐漸失去其動能，最后停止運(yùn)動，并被樣品吸收。在此過程中有99%以上的入射電子能量轉(zhuǎn)變成樣品熱能，而其余約1%的入射電子能量從樣品中激發(fā)出各種信號。這些信號主要包括二次電子、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、電子電動勢、陰極發(fā)光、X射線等。鎢燈絲掃描電鏡就是通過這些...

差示掃描量熱儀，測量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系，應(yīng)用范圍非常廣，特別是材料的研發(fā)、性能檢測與質(zhì)量控制。材料的特性，如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、冷結(jié)晶、相轉(zhuǎn)變、熔融、結(jié)晶、產(chǎn)品穩(wěn)定性、固化/交聯(lián)、氧化誘導(dǎo)期等，都是差示掃描量熱儀的研究領(lǐng)域。應(yīng)用的領(lǐng)域有以下幾方面：（1）成分分析無機(jī)物、有機(jī)物、藥物和高聚物的鑒別以及它們的相圖研究。（2）穩(wěn)定性測定物質(zhì)的熱穩(wěn)定性、抗氧化性能的測定等。（3）化學(xué)反應(yīng)研究固體物質(zhì)與氣體反應(yīng)的研究、催化劑性能測定、反應(yīng)動力學(xué)研究、反應(yīng)熱測定、相變...

X射線熒光光譜儀由激發(fā)光源、單色器、狹縫、樣品室、信號檢測放大系統(tǒng)和信號讀出、記錄系統(tǒng)組成。激發(fā)光源提供用于激發(fā)樣品的入射光的來源。單色器用來分離出所需要的單色光。信號檢測放大系統(tǒng)用來把熒光信號轉(zhuǎn)化為電信號，結(jié)合放大系統(tǒng)上的讀出裝置可顯示或記錄熒光信號。X射線熒光光譜儀由光源氙弧燈發(fā)出的光通過切光器使其變成斷續(xù)之光以及激發(fā)光單色器變成單色光后，此光即為熒光物質(zhì)的激發(fā)光，被測的熒光物質(zhì)在激發(fā)光照射下所發(fā)出的熒光，經(jīng)過單色器變成單色熒光后照射于測樣品用的光電倍增管上，由其所發(fā)生的...

場發(fā)射掃描電鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種，其原理是利用二次電子或背散射電子成像，對樣品表面放大一定的倍數(shù)進(jìn)行形貌觀察，同時利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來對微區(qū)的成分進(jìn)行定性定量分析。場發(fā)射掃描電鏡的分類：1、冷場發(fā)射掃描電鏡冷場發(fā)射掃描電鏡優(yōu)點(diǎn)是電子束直徑小，亮度高，因此影像分辨率高。能量散布小，故能改善在低電壓操作的效果。為避免針尖被外來氣體吸附，而降低場發(fā)射電流，并使發(fā)射電流不穩(wěn)定，冷場發(fā)射式電子槍必需在10^-10torr的真空度下操作，雖然如此，還是需要定...

鎢燈絲掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機(jī)理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實(shí)現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息;對x射線的采集，可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。掃描電鏡的另一個重要特點(diǎn)是景深大，圖像立體掃描電鏡的透射電鏡是光學(xué)顯微鏡的10倍由于圖像景深較大，獲得的掃描電子圖像具有三維感強(qiáng)、形狀三維等特點(diǎn)，比其他顯微鏡能提供更多的信息，對用戶有很大的價值掃描電鏡所表明斷裂形態(tài)從深層和高景深的角度反映了材料斷裂的性質(zhì)，在教學(xué)科研和生產(chǎn)中具有不...